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太陽(yáng)能背板厚度檢測(cè)
雙元科技基于白光干涉和光譜共焦兩類非接觸式光學(xué)技術(shù),為太陽(yáng)能電池背板與膜層材料檢測(cè)提供高精度解決方案。白光干涉系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)厚度檢測(cè),適用于多層膜厚度同步分析,具有高頻率、無(wú)輻射、安全性高等優(yōu)點(diǎn);光譜共焦系統(tǒng)則提供超強(qiáng)抗干擾和多角度測(cè)量能力,適用于復(fù)雜背板結(jié)構(gòu)中間層厚度與平整度分析。兩者均支持嵌入產(chǎn)線,在線實(shí)時(shí)測(cè)量與質(zhì)量判斷,并可輸出結(jié)構(gòu)分布圖與厚度剖面圖。系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能玻璃、封裝膜、涂層背板等精密材料在線檢測(cè)。
白光干涉
光譜共焦
非接觸無(wú)損檢測(cè)
厚度檢測(cè)
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